金属材料的力学性能,由标准试样的拉伸试验判定。试样两端由夹具夹持,沿轴向加载至断裂,试验机全程记录载荷与变形。这台设备即材料试验机,业内亦称万能试验机,更换夹具后可完成压缩、弯曲与剪切试验。受力初期试样处于弹性阶段,卸载后变形完全恢复。载荷越过临界点后,试样产生不可恢复的残余变形,曲线短暂下降后趋于平稳,该点即屈服点。屈服点在一次试验中仅出现一次。位移、引伸计与应变片的读数若未与载荷在同一时刻定格,事后无法通过对齐数据还原。屈服点之后载荷曲线趋于平缓,载荷增量很小而变形持续发展,对微小变化的分辨能力成为主要约束。满量程±10V对应100kN时,需要分辨的变化量可能不足100N,即满量程的千分之一以下。一台试验机需要同时监测量载荷、标距段变形、横梁位移、局部应变与补偿温度。应变片通常布置4至6片,合计7至8路,一颗8通道器件即可全部覆盖。

材料试验机上的五路测量通道:载荷、变形、应变、温度与横梁位移,分别由不同位置的传感器取点。通道数量、采样时刻一致与小信号分辨能力,三项要求共同指向同一类器件。芯动神州的ADCS8182即为此设计:18位、8通道同步采样数据采集系统(DAS)。
8路共用一个采样时刻

ADCS8182的8个模拟输入共用一个采样时刻。CONVST上升沿到来时,8路跟踪保持放大器同时进入保持状态,各通道的转换随后依次完成。每通道吞吐速率为200kSPS。试验机通常按每秒数百至数千点采集,速率余量充足,而8路之间的时刻偏差为零。
量化台阶折算到载荷
ADCS8182将满量程划分为262,144个量化台阶。手册传递函数图直接标注了每个台阶的大小:±10V档为76.29µV,±5V档为38.15µV。折算到试验台读数更为直观:满量程输出±10V对应100kN量程的载荷传感器时,一个最低有效位(LSB)约合0.38N。此处需区分分辨率与精度:18位描述分辨能力,并非不经校准即可达到的精度。手册的总非调整误差(TUE)为±15LSB(±10V)与±40LSB(±5V)。无过采样、±10V档的信噪比典型值为89dB,按(89−1.76)/6.02折算,单次采样的有效位数约14.5位。要兑现18位的分辨能力,还需依靠后级数字滤波与系统标定。微弱信号能否被可靠分辨,取决于相邻通道的串扰水平。ADCS8182的通道间隔离为−105dB,测试条件为未选中通道的输入频率高至160kHz。
过采样的收益与代价
片内集成数字滤波器,过采样倍率由OS[2:0]三个引脚设定,在BUSY下降沿锁存。倍率提高后信噪比上升,带宽与吞吐量同步下降。手册表8的对应关系(±10V档):

需要关注增益的边际递减:过采样倍率由16倍提高到64倍,信噪比仅增加1.1dB,吞吐量降至四分之一。蠕变与松弛试验的时标以分钟乃至小时计,3.125kSPS的吞吐量仍属充足。8倍至16倍是常用的折中档位。
传感器输出可直接接入
试验机前端通常需要一级驱动放大器,将传感器输出调整至ADC输入范围并配备负电源。ADCS8182可将这一级省去。模拟输入阻抗为1MΩ且保持固定,不随采样频率变化,传感器或调理电路的输出可直接接入。输入量程由RANGE引脚选择:接高电平为±10V,接低电平为±5V。电平切换后需要约80µs建立时间,手册建议按信号范围硬连线设定。输入端内置±16.5V钳位,超出量程的过压被限制在芯片外部,串联电阻将电流限制在±10mA。有一处需注意:Vx上串联限流电阻时,VxGND需配置等值电阻,否则该通道会引入失调误差。片内还集成二阶抗混叠滤波器,200kSPS时提供40dB抗混叠抑制。基准同样集成于片内:2.5V带隙基准经缓冲升至4.0V供SAR使用。多片系统可令一片工作于内部基准模式,直接驱动其余几片的外部基准引脚,省去外置基准的漂移匹配。
串行接口与读出时序
ADCS8182提供串行接口,兼容SPI、QSPI、MICROWIRE与DSP。采用两条DOUT线时,一帧72个SCLK即可读回全部8个通道,每条线负责4个通道的18位数据;仅用一条DOUT则需要144个SCLK。VDRIVE高于4.75V时,数据可在转换过程中读出,过采样开启后仍可维持满吞吐率。通道按V1至V8顺序输出,FRSTDATA指示第一个结果已就绪。
同平台的16位型号
芯动神州的8通道同步采样DAS提供16位与18位两个档位。ADCS8162为16位档,接口更灵活,可采用并行总线直读。多轴设备的位置与电流反馈、电力线路的工频量测,被测量本身即占满量程的千分之几,16位已可覆盖。材料试验机这类需要分辨缓慢小变化的场合,属于ADCS8182的适用范围。
供货与支持
ADCS8182已在芯动神州国内量产,提供两个温度档:ADCS8182LFP覆盖−40℃至+85℃,ADCS8182MLFP覆盖−40℃至+125℃,封装为LQFP-64,本体尺寸12mm×12mm。前端省去驱动放大器与负电源后,板卡器件数量与供电设计随之简化。最小可分辨变化量、满量程与采样节拍确定后,即可核算所需位数与过采样档位。

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