| SN74LVTH18504APM | ||
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| 产品描述：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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| 标准包装：160 | ||
| 数据手册： -- | ||
| ECAD模型:
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- 规格参数
- 产品特性
- 技术文档
- 产品评论
| 安装类型 | 表面贴装 |
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| 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商器件封装 | 64-LQFP（10x10） |
| 逻辑类型 | ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 |
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
| 位数 | 20 |
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